高精度自動薄膜測厚儀CHY-S 0.1微米測厚儀*

規格：CHY-S

關鍵字：薄膜測厚儀,自動測厚儀,0.1微米測厚儀,高精度測厚儀,厚度測量儀

品牌：sumspring三泉中石

在工業生產和生活應用中，薄膜的厚度是一項非常重要的參數，因為它直接關系到薄膜材料能否正常工作，尤其是一些微電子薄膜，光學薄膜，抗氧化薄膜，巨磁電阻薄膜，高溫超導薄膜等。除此之外，薄膜材料的力學性能，透光性能，磁性能，熱導率，表面結構等都與厚度密不可分。                  

濟南三泉中石生產的CHY-S 高精度0.1微米自動薄膜測厚儀適用于2mm范圍內各種薄膜、復合膜、紙張、金屬箔片等硬質和軟質材料厚度的測量。該儀器精度高，誤差小，操作簡單方便，同時配備微型打印機，方便查看和打印數據結果。

高精度0.1微米自動薄膜測厚儀

技術特征

1.配備微型打印機，數據實時顯示、自動統計、打印，方便快捷地獲取測試結果 ；

2.打印數值及每次測量結果，方便用戶分析數據 ；

3.儀器自動保存達100組測試結果，隨時查看并打印 ；

4.標準量塊標定,方便用戶快速標定設備 ；

5.配備自動進樣器，可一鍵實現全自動多點測量，誤差小 ；

6.提供測試結果圖形統計分析，準確直觀地將測試結果展示給用戶；

7.配備標準RS232接口，方便系統與電腦的外部連接和數據傳輸。

技術參數              

測量范圍 ：0-2mm （其他量程可定制）              

分辨率 ：0.1um              

測量速度 ： 10次/min（可調）              

測量壓力 ：17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（紙張）              

接觸面積 ：50mm2（薄膜），200mm2（紙張） 注：薄膜、紙張任選一種              

進樣步矩 ： 0 ～ 1300 mm(可調)              

進樣速度 ： 0 ～ 120 mm/s(可調)              

機器尺寸： 450mm×340mm×390mm (長寬高)              

重    量： 23Kg              

工作溫度：15℃-50℃                    

試驗環境：無震動，無電磁干擾              

工作電源：220V 50Hz

參照標準

GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、

ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、

JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817